AI 工具很多,每個人方法也不一樣,我個人偏好利用 Claude
例如要搜尋 Wafer defect detection 近年論文,我可能提示 Wafer defect detection research in 2022-2025
或是 OOO research in 2022-2025
如果你可以使用 Claude Research
這個搜尋會更加深入,而且會生成更加完整的文獻回顧
Claude
Claude Search
傳統的 IEEE xplore 也很好
不過AI 的方法比較有脈絡
另外Google scholar 可以同時搜尋不同資料庫,而且會呈現論文引用統計,無論廣度深度會比單獨 IEEE 完整
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